З метою створення нових високоінформативних методів діягностики випадково розподілених нанорозмірних дефектів (ВРНД), які не можна спостерігати за допомогою традиційних неруйнівних методів, таких, як Рентгенова топографія, для якої такі нанорозмірні в одному з вимірів або в усіх трьох вимірах дефекти виявляються за межами чутливості методу, розроблено фізичні основи методу деформаційних залежностей повної інтегральної відбивної здатности (ПІВЗ), яка виявилася унікальне чутливою до СНРД. Уперше теоретично й експериментально доведено наявність залежностей від однорідної пружної макроскопічної деформації інтегральної інтенсивності дифузного розсіювання, екстинкційних факторів чи коефіцієнтів екстинкції, обумовлених розсіюванням на дефектах, як для когерентної (<$E mu sub ds>), так і для дифузної (<$E mu sup *>) складових ПІВЗ та ефективного статичного фактора Дебая - Валлера, показник якого вважається пропорційним до інтегральної інтенсивності дифузного розсіювання. Встановлено природу можливих механізмів як адитивного, так і неадитивного впливу пружних деформацій (ПД) та ВРНД в об'ємі динамічно розсіювального монокристала на величину ПІВЗ за умов різного ступеня асиметрії відбиттів, яка дозволяє суттєво посилювати ефект впливу ПД на ПІВЗ. Показано, що неадитивність сумісного впливу ВРНД і ПД на величину ПІВЗ Ляве-рефлексів свідчить про суттєву роль ефектів екстинкції через розсіювання на ВРНД і про відносне зростання їх впливу на ПІВЗ за умов зростання ПД, що забезпечується, наприклад, присутністю в досліджуваному монокристалі крупних у двох вимірах ВРНД, вплив яких на величину ПІВЗ виявляється за вказаними причинами порівнюваним

із впливом пружної деформації в разі будь-якої сили вигинання та в разі будь-якого ступеня асиметрії Ляве-рефлексів, що використовуються. Дрібні дефекти за умов звичайно достатньо низьких їх концентрацій через слабкий прояв для них вказаних екстинкційних ефектів призводять до адитивного впливу ВРНД і ПД на ПІВЗ за будь-якого ступеня асиметрії відбиттів. Доведено можливість розділення впливу на ПІВЗ ВРНД і ПД шляхом факторизації виразів для ПІВЗ на множники, що залежать тільки від ВРНД і тільки від ПД. В тому числі вперше деформаційні поправки до факторів екстинкції деформаційних залежностей Бреггової та дифузної складових ПІВЗ пружно вигнутих монокристалів з мікродефектами феноменологічно також факторизовано на множники, що залежать тільки від ВРНД і тільки від ПД. За цих умов знайдено в явному вигляді залежність вказаних поправок від характеристик ВРНД. Це вперше забезпечило можливість адекватного кількісного визначення характеристик ВРНД шляхом припасовування теоретичних та експериментальних деформаційних залежностей ПІВЗ.

• Шпак Андрій Петрович (юридичні науки)
• Шпак Анатолій Петрович (1949–2011) (фізико-математичні науки)
• Молодкін Вадим Борисович (1941–) (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"