За допомогою еліпсометричної методики досліджено природу порушень, що виникають у приповерхневому шарі мідних дзеркал, одержаних алмазним мікроточінням. Виміряно інтенсивність відбитого випромінювання та визначено величину головного кута й еліптичності. Виявлено високу чутливість цих параметрів до досліджуваних способів нанесення відбивного шару та режимів осаджування. Установлено, що дія ряду технологічних факторів може призвести до зміни структури речовини по всій товщині осадженого шару (режим гальванічного осадження) або в тонкому приповерхневому шарі (режим точіння).

• Стащук Василь Степанович (фізико-математичні науки)
• Лисюк Віктор Олександрович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"