Лобода П. І. Вплив досконалості мікроструктури на електропровідність гексабориду лантану / П. І. Лобода // Фізика і хімія твердого тіла. - 2004. - 5, № 3. - С. 577-583. - Бібліогр.: 16 назв. - укp.За даними експериментальних досліджень електроопору пресовок спечених із порошку з надлишком бору (1 - 10 об. %) і монокристалів з щільністю дислокацій <$E 10 sup 3~-~10 sup 6~roman см sup -2>, одержаних способом зонної плавки порошкових матеріалів з розчинником домішок, що рухається, встановлено вклад щільності об'ємних (границь зерен), лінійних (дислокацій) і точкових (вакансій у підгратці лантану) дефектів будови кристалічної гратки в електропровідність гексабориду лантану. Ключ. слова: гексаборид лантану, провідність, електроопір, дефекти кристалічної гратки, дислокація, вакансія, підгратка, мікротвердість Індекс рубрикатора НБУВ: К391.91
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|