Вісник Київського національного університету ім. Т.Шевченка / ред.: В. В. Балабін. - К., 2006. - 98 с. - (Військ.-спец. науки; Вип. 12 - 13). - укp.Проаналізовано вплив землі в процесі використання методу парціальних діаграм направленості антен на вимірювання малих кутів. Наведено результати досліджень початкових дефектів та домішок, а також конструктивних дефектів на параметри кремнієвих фотоелектричних перетворювачів. Викладено методику проведення жидкофазної епітаксії монокристалічних шарів складних сполук для створення високочутливих та високонадійних детекторів радіаційного випромінювання, а також методику дослідження оптичної неоднорідності, напівпровідникових матеріалів, які використовуються для створення інфрачервоних лазерів. Розглянуто ітераційний алгоритм підвищення точності вимірів у фазовимірювальних схемах інтерференційного типу, наведено вольт-амперні характеристики діодів у чотиридетекторних схемах. Проанализировано влияние земли в процессе использования метода парциальных диаграмм направленности антенн на измерение малых углов. Приведены результаты исследований начальных дефектов и примесей, а также конструктивных дефектов на параметры кремниевых фотоэлектрических преобразователей. Изложены методика проведения жидкофазной эпитаксии монокристаллических слоев сложных соединений для создания высокочувствительных и высоконадежных детекторов радиационного излучения, а также методика исследования оптической неоднородности, полупроводниковых материалов, используемых для создания инфракрасных лазеров. Рассмотрен итерационный алгоритм повышения точности измерений в фазоизмеряемых схемах интерференционного типа, приведены вольт-амперные характеристики диодов в четырехдетекторных схемах. Індекс рубрикатора НБУВ: З8/9я54(4УКР)3
Шифр НБУВ: Ж28079/ВСН. Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|