Шпак А. П. Діагностика наносистем : Навч. посіб. для студ. фіз. та інж.-фіз. спец. вищ. закл. освіти: У 2 ч. Ч. 1 / А. П. Шпак, Ю. А. Куницький, С. Ю. Смик; НАН України. Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова, Київ. нац. ун-т ім. Т.Шевченка. - К. : Академперіодика, 2003. - 148 c. - Библиогр.: 120 назв. - укp.Викладено фізичні основи та наведено приклади застосування методів дослідження структури наносистем і наноматеріалів, а також фур'є-когерентного аналізу для обробки електронно-мікроскопічних зображень нанооб'єктів. Проаналізовано структуру наноматеріалів за допомогою просвічувальної електронної мікроскопії високої роздільної здатності, електронно-зондових приладів, мікроскопів, спектрометрів та аналізаторів. Изложены физические основы и приведены примеры применения методов исследования структуры наносистем и наноматериалов, а также фурье-когерентного анализа для обработки электронно-микроскопических изображений нанообъектов. Проанализирована структура наноматериалов с помощью просвечивающей электронной микроскопии высокой разделяющей способности, электронно-зондовых приборов, микроскопов, спектрометров и анализаторов. Індекс рубрикатора НБУВ: К391.910.1-1я73
Шифр НБУВ: В347437 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|