Предложены методы статистического моделирования по пассивным данным, позволяющие использовать накопленную цеховую контрольно-измерительную информацию для получения модели конкретного технологического процесса (операции), пригодной для его оптимизации.Дана сравнительная характеристика методов. На примере производства интегральных микросхем показана эффективность подхода.

There is offer a complex of mathematical methods directed on upgrading effectiveness of sample check operative control of group technological processes and increasing of the outgoing fit percent of electronic wares. Some manufacture examples are shown.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"