Наведено матеріали з вимірювання питомої іонної та електронної провідності тонких шарів твердих Li<^>+-провідних електролітів (ТЕЛ) зі структурою скла. Досліджено плівки ТЕЛ чотирьох складів: три склади на основі вольфрамату літію, один - на основі сульфату літію. Доведено, що хімічний склад ТЕЛ впливає на питому іонну і практично не впливає на питому електронну провідність скла. На підставі рентгеноструктурного аналізу виявлено високий ступінь аморфності тонких шарів ТЕЛ.

Приведены материалы по измерению удельной ионной и электронной проводимости тонких слоев твердых Li<^>+-проводящих электролитов (ТЭЛ) со структурой стекол. Были исследованы пленки ТЭЛ четырех составов: три состава на основе вольфрамата лития,один - на основе сульфата лития. Показано, что химический состав ТЭЛ влияет на удельную ионную и практически не влияет на удельную электронную проводимость стекол. Рентгеноструктурный анализ показал высокую степень аморфности тонких слоев ТЭЛ.

In the paper the materials concerning the measurement of specific ion and electron conductivity of the fine layers of solid Li+ - conducting electrolytes (SEL) with a glass structure are presented. SEL films of four compositions have been investigated: three compositions based on lithium tungstate, one composition based on lithium sulfate. It has been shown that chemical composition of SEL effects on specific electron conductivity. X-ray diffraction analysis has shown the high degree of amorphism of the fine layers of SEL.

• Маркевич Олександр Васильович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"