Дан обзор современного состояния измерения температуры перегрева активной области полупроводниковых приборов DELTA T_AO с потенциальными барьерами (диодов, транзисторов, тиристоров, оптоэлектронных приборов, интегральных схем и др.). Рассмотрены контактные и косвенные методы определения DELTA T_AO: проанализированы их преимущества и недостатки. Значительное внимание уделено электролюминесцентным методам контроля DELTA T_AO светоизлучающих приборов оптоэлектроники в процессе их эксплуатации, особенно при питании импульсным током. Описаны преимущества этих методов по сравнению с другими известными в научно-технической литературе.

• Олексенко Павло Феофанович (1940–2021) (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"