Рассмотрено влияние слоя оксида цинка на дисперсию и пространственное распределение полей (ПРП) поверхностных поляритонов сапфира в системе ZnO/Al₂O₃ для пленок ZnO характерных толщин d = 0,001 - 10 мкм. Для тонких пленок ZnO (d <= 0,05 мкм) поле поверхностного поляритона (ПП) сапфира преимущественно локализовано в сапфире и воздухе, однако ощутимо влияние слоя на общую картину распределения амплитуды поля ПП. В сапфире поле ПП затухает значительно быстрее, чем в воздухе, причем, чем больше частота ПП, тем резче уменьшение амплитуды поля. При d >= 0,1 мкм наблюдается "осциллирующий" характер затухания поля ПП в воздухе. При d >= 5 мкм поле E_z ПП верхней ветви сапфира "осциллирующее" в отличие от нижней ветви, т.е. во всех трех средах наблюдается резкое изменение направления амплитуды поля E_z на противоположное при изменении частоты ПП. Рассмотрение пространственной стуктуры поля для трехслойной системы сапфир - ZnO - воздух дает возможность определить условия локализации полей ПП у границ раздела сред системы.

• Венгер Євген Федорович (1947–) (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"