Обговорюються нові методи теорії дифракції у діелектричних, плазмових, кіральних та інших середовищах, навантажених металевими екранами, узагальнені потім для розв'язання спектральних задач та дослідження критичних точок спектра. Для околів останніх одержано та проаналізовано нелінійні еволюційні рівняння.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"