У кінематичному наближенні за допомогою числового методу змодельовано порошкові дифрактограми, властиві ГЦК-кристалам з високою щільністю (більшою ніж 0,1 %) деформаційних дефектів пакування (ДДП). Показано, що наявність таких дефектів у кристалі призводить до суттєвої трансформації профілів дифракційних піків, характеристики яких змінюються немонотонно не лише залежно від їх індексів, але й від концентрації ДДП. Із використанням розрахованих за певних значень концентрацій ДДП порошкових дифрактограм проведено оцінку можливості використання розвинених раніше методів визначення концентрації дефектів пакування, які базуються на гармонічному аналізі профілів піків (метод Уоррена - Авербаха), а також на зміщенні піків з бреггівських положень. Запропоновано уточнені співвідношення між концентрацією ДДП і характеристиками дифракційних піків (коефіцієнтами фур'є - розкладу, величиною зміщення) у випадку концентрацій ДДП, більших за 0,1 %.

• Устінов Анатолій Іванович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"