Розглянуто варіант тіньової електронної мікроскопії, що стосується безпосередньо центрального проектування тіньового зображення мікрооб'єкта, наприклад в електронографі. Наведено застосування вказаного методу до кількісної оцінки параметрів шорсткості мікровиробів.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"