РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000008881<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Сидоренко С. И. Исследование структурных превращений при кристаллизации тонких пленок системы Ta - Si методом когерентного оптического фурье-анализа / С. И. Сидоренко, Ю. Н. Макогон, В. А. Мохорот, А. А. Дзярук, О. В. Зеленин // Металлофизика и новейшие технологии. - 2001. - 23, № 4. - С. 473-479. - Библиогр.: 3 назв. - рус. Вивчено особливості перебудови морфології структури в процесі кристалізації тонких плівок системи Ta - Si за допомогою когерентного оптичного фур'є-аналізу. Досліджено процеси фазоутворення в тонкоплівковій системі Ta - Si за температур відпалювання 917, 1078, 1223, 1307 і 1463 К. Виявлено та кількісно описано ряд особливостей у зміні морфології структури в процесі кристалізації системи. Ключ. слова: силицид, фурье-анализ, аморфное состояние, структурное превращение, ориентированное влияние подложки, кристаллическое состояние Індекс рубрикатора НБУВ: К235.150.26 Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського