Наведено результати досліджень електродинамічних характеристик напівпровідникової елементної бази РЕА за допомогою випробувального стенду на базі хвилеводного панорамного вимірювача КСХ. Виміряно частотні характеристики КСХ і коефіцієнт відбиття за різних діапазонів довжини хвиль. Показано вплив структури елементів на вид частотної залежності та резонансні частоти досліджених елементів. Отримані дані дозволяють уточнити параметри антенної моделі взаємодії електромагнітного випромінювання з елементною базою для забезпечення електромагнітної сумісності РЕА.

Приведены результаты исследований электродинамических характеристик полупроводниковой элементной базы РЭА с помощью испытательного стенда на основе волноводного панорамного измерителя КСВ. Измерены частотные зависимости КСВ и коэффициента отражения в различных диапазонах длины волн. Показано влияние структуры элементов на вид частотной зависимости и резонансные частоты исследуемых элементов. Полученные результаты позволяют уточнить параметры антенной модели взаимодействия электромагнитного излучения с элементной базой с целью обеспечения электромагнитной совместимости РЭА.

The investigation results of electrodynamic characteristic of semiconductor radioelectronics elements are given based on waveguide panoramic SWAR measurements. Frequency characteristics of SWAR and reflection efficiency have been measured in any broadband. Dependence of frequency characteristics and resonant frequencies on the element structure is shown. The obtained results allow to refine the parameters of the antenna model of electromagnetic radiation with the elements for the REE electromagnetic compatibility.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"