Устинов А. И. Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифракцию рентгеновских лучей / А. И. Устинов, Л. А. Олиховская, Ж. -К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. - 2001. - 2, № 1. - С. 51-84. - Библиогр.: 42 назв. - рус.Методом Монте - Карло в кінематичному наближенні змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з тетрагональною граткою, які являють собою комплекс двійникових доменів, розділених паралельними когерентними границями. Розподіли товщин двійникових доменів змодельовано з використанням геометричної, гаусової та нормально-логарифмічної функцій. Для певних значень параметрів цих функцій виявлено "критичні" ефекти розсіяння, що являють собою перетворення тетрагонального дуплета на одиночний пік або мультиплет. Показано, що кожна з характеристик профілю тетрагонального дуплета залежить від кількох параметрів, які характеризують двійникову мікроструктуру кристала, а також ступеня тетрагональності. Ключ. слова: дифракция рентгеновских лучей, диффузное рассеяние, тетрагональный кристалл, двойники, сателлиты Індекс рубрикатора НБУВ: В372.2 + В346.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж23022 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|