Modeling of frequentis characteristics of resonator system of powerful klystron with the melting of the transient channels

Olszewski, S. V.; Tanasiichuk, Ya. V.


	Наукова періодика України		Системні технології

Olszewski S. V.
Modeling of frequentis characteristics of resonator system of powerful klystron with the melting of the transient channels / S. V. Olszewski, Ya. V. Tanasiichuk // Системні технології. - 2017. - Вип. 6. - С. 131-137. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/st_2017_6_16

Розглянуто результати експериментальних та теоретичних досліджень впливу механічних дефектів на стан резонаторної системи потужного клістрона. Дана числова оцінка впливу дефектів об'ємом 1 - 5 % від об'єму резонатора на його АЧХ.

Повний текст PDF - 1.889 Mb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Olszewski S.

Tanasiichuk Y.

Бібліографічний опис для цитування:

Olszewski S. V. Modeling of frequentis characteristics of resonator system of powerful klystron with the melting of the transient channels / S. V. Olszewski, Ya. V. Tanasiichuk // Системні технології. - 2017. - Вип. 6. - С. 131-137. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/st_2017_6_16.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача