Проаналізовано публікації з невизначеності вимірювань лінійних розмірів растровим електронним мікроскопом. Проведено оцінку невизначеності вимірювань діаметра частинок SiO2 методом електронної мікроскопії. Проаналізовано джерела невизначеності, характерні для такого методу дослідження. Встановлено, що визначальним впливаючим фактором на невизначеність вимірювання є інструментальна складова. Показано особливості обробки мікрофотографій для визначення характеристик структурованого матеріалу: розмірів частинок, закону їх розподілу за діаметрами, дефектність структури.

  Повний текст PDF - 1.28 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"