| Наукова періодика України |
| Системи обробки інформації |
Д'яченко Л. І. Система аналізу дефектів вирощування напівпровідникових кристалів / Л. І. Д'яченко, Є. В. Мінов, С. Е. Остапов, І. Й. Наконечний, В. І. Буркут, О. В. Копач, П. М. Фочук // Системи обробки інформації. - 2012. - Вип. 4(1). - С. 16-19. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/soi_2012_1_4_7 Розроблено програмне забезпечення для розпізнавання фотографій дефектної підсистеми, які створюються під час сканування реальних напівпровідникових кристалів в ІЧ-променях. Наведено структурну схему та опис установки, яка використовується для одержання знімків, а також описано алгоритм розпізнавання ІЧ фотографій. Наведено способи перевірки правильності розпізнавання та запропоновано новий метод тестування коректності роботи існуючих програмних комплексів для моделювання структури та параметрів підсистеми дефектів вирощування напівпровідникових кристалів. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Д'яченко Л. І. Система аналізу дефектів вирощування напівпровідникових кристалів / Л. І. Д'яченко, Є. В. Мінов, С. Е. Остапов, І. Й. Наконечний, В. І. Буркут, О. В. Копач, П. М. Фочук // Системи обробки інформації. - 2012. - Вип. 4(1). - С. 16-19. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/soi_2012_1_4_7.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
