Наукова періодика України Системи обробки інформації


Неежмаков К. П. 
Перспективы развития нанометрологии в Украине с использованием растровых электронных микроскопов / К. П. Неежмаков // Системи обробки інформації. - 2011. - Вип. 6. - С. 181-184. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/soi_2011_6_47
Развитие микроэлектроники, микромеханики, нанотехнологий требует совершенствования методов измерения линейных размеров элементов топологии микросхем, анализа поверхностных структур, а также требует средств измерений, подтверждающих достоверность результатов измерений размеров реальных объектов и их элементного состава. Измерения линейных размеров в микронном и субмикронном диапазонах методом растровой электронной микроскопии на сегодняшний день считаются одними из наиболее точных. Следует отметить, что ведущие страны мира, занимающие ключевые позиции в микроэлектронике, вопросам внедрения метрологии в практику линейных измерений в микро- и нанометровом диапазонах уделяют первостепенное значение.
  Повний текст PDF - 463.348 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Неежмаков К.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Неежмаков К. П. Перспективы развития нанометрологии в Украине с использованием растровых электронных микроскопов / К. П. Неежмаков // Системи обробки інформації. - 2011. - Вип. 6. - С. 181-184. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/soi_2011_6_47.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського