Предложен усовершенствованный метод определения вероятности деградации полупроводниковых элементов входных трактов приемных устройств бортовых РЭС при использовании последовательностей мощных ультракоротких сигналов. Метод позволяет определить вероятности появления повреждений в различных типах полупроводниковых элементов при нормальном и равномерном законах распределения тепловой энергии. Проведено математическое моделирование вероятности возникновения повреждений полупроводниковых приборов с использованием нормального и равномерного законов распределений для тепловой энергии, возбуждающей p - n переход. Получены количественные оценки для вероятности отказов входных трактов приемных устройств при использовании последовательностей мощных многочастотных пространственно-временных сигналов.