Проведен анализ эволюции фаз и микроструктуры композитов алмаз-SiC-Si, изготовленных с использованием процесса вакуумной инфильтрации газообразного кремния. Исследование выполнено с помощью дифракции рентгеновских лучей и сканирующей электронной микроскопии. Установлено, что композит алмаз-SiC-Si состоит из <$E beta>-SiC, алмаза и остаточного Si. Алмазные частицы распределены однородно в плотной матрице композитов. Также проанализировано влияние размера частиц и содержания алмазов на свойства композитов алмаз-SiC-Si. Показано, что теплопроводность композитов возрастает с увеличением размера частиц и содержания алмазов. Теплопроводность композитов приближается к значению 280 Вт м<^>-1 К<^>-1 при размере частиц и содержании алмаза 300 мкм и 80 % (по массе), соответственно.

  Повний текст PDF - 572.498 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"