Наукова періодика України Сенсорна електроніка і мікросистемні технології

Peleshchak R. M. 
Influence of the quantum dot material deformation on tamm surface levels / R. M. Peleshchak, R. Ya. Leshko, D. S. Karpyn // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2020. - Т. 17, № 3. - С. 4-11. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2020_17_3_3
  Повний текст PDF - 441.114 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Peleshchak R.
  • Leshko R.
  • Karpyn D.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Peleshchak R. M. Influence of the quantum dot material deformation on tamm surface levels / R. M. Peleshchak, R. Ya. Leshko, D. S. Karpyn // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2020. - Т. 17, № 3. - С. 4-11. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2020_17_3_3.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського