Improvement generating of the test signals for determination of the impedance parameters in wide frequency range

Melnyk, V. G.; Borschov, P. I.; Beliaev, V. K.; Vasylenko, O. D.; Lameko, O. L.; Slitskiy, O. V.


	Наукова періодика України		Сенсорна електроніка і мікросистемні технології

Melnyk V. G.
Improvement generating of the test signals for determination of the impedance parameters in wide frequency range / V. G. Melnyk, P. I. Borschov, V. K. Beliaev, O. D. Vasylenko, O. L. Lameko, O. V. Slitskiy // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2020. - Т. 17, № 2. - С. 60-72. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2020_17_2_7

Повний текст PDF - 766.687 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Melnyk V. G. Improvement generating of the test signals for determination of the impedance parameters in wide frequency range / V. G. Melnyk, P. I. Borschov, V. K. Beliaev, O. D. Vasylenko, O. L. Lameko, O. V. Slitskiy // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2020. - Т. 17, № 2. - С. 60-72. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2020_17_2_7.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача