Наукова періодика України | Сенсорна електроніка і мікросистемні технології | ||
Buyadzhi V. V. Determination of radiation decay parameters for heavy complex atomic systems / V. V. Buyadzhi, A. V. Glushkov, E. V. Ternovsky, O. L. Mykhailov, O. Yu. Khetselius // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2019. - Т. 16, № 3. - С. 59-68. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2019_16_3_7 Комбінований релятивістський енергетичний підхід і релятивістська теорія збурень багатьох тіл з одночасткову оптимізованим потенціалом ab initio моделі нульового порядку використовуються для точного розрахунку рівнів енергії і ймовірностей радіаційного розпаду (радіаційних амплітуд) важких лужних елементів, зокрема, наведені дані для переходів 7s Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Buyadzhi V. V. Determination of radiation decay parameters for heavy complex atomic systems / V. V. Buyadzhi, A. V. Glushkov, E. V. Ternovsky, O. L. Mykhailov, O. Yu. Khetselius // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2019. - Т. 16, № 3. - С. 59-68. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2019_16_3_7. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |