Наукова періодика України Сенсорна електроніка і мікросистемні технології


Kuznetsova A. A. 
Optimized relativistic operator perturbation theory in spectroscopy of multielectron atom in a DC electric field: sensing spectral parameters / A. A. Kuznetsova, A. V. Glushkov, M. Yu. Gurskaya, A. A. Buyadzhi, V. B. Ternovsky // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2018. - Т. 15, № 4. - С. 50-57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2018_15_4_6
Розроблено оптимізовану версію нового методу релятивістської операторної теорії збурень з метою обчислення характеристик штарківських резонансів (енергії і ширини) для багатоелектронних атомних систем в електромагнітному полі. Новий підхід надає змогу виконати кількісно прецизійний і теоретично послідовний опис сильно-польового (DC, AC) ефекту Штарка і включає в себе фізично обгрунтоване наближення перекручених хвиль в межах формально точної релятивістської квантово-механічної процедури. Як ілюстрацію наведено деякі тестові дані для енергій і ширини штарківських резонансів у важких багатоелектронних атомах (цезій, францій), які порівнюються з результатами розрахунків в межах альтернативних послідовних методів.
  Повний текст PDF - 786.608 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Kuznetsova A.
  • Glushkov A.
  • Gurskaya M.
  • Buyadzhi A.
  • Ternovsky V.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Kuznetsova A. A. Optimized relativistic operator perturbation theory in spectroscopy of multielectron atom in a DC electric field: sensing spectral parameters / A. A. Kuznetsova, A. V. Glushkov, M. Yu. Gurskaya, A. A. Buyadzhi, V. B. Ternovsky // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2018. - Т. 15, № 4. - С. 50-57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2018_15_4_6.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського