Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Жарков, И. П.; Иващенко, А. Н.; Руденко, Э. М.; Короташ, И. В.; Краковный, А. А.; Сафронов, В. В.; Ходунов, В. А.; Руденко, А. Э.


	Наукова періодика України		Наука та інновації

Жарков И. П.
Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И. П. Жарков, А. Н. Иващенко, Э. М. Руденко, И. В. Короташ, А. А. Краковный, В. В. Сафронов, В. А. Ходунов, А. Э. Руденко // Наука та інновації. - 2013. - Т. 9, № 3. - С. 13-18. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/scinn_2013_9_3_3

The new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal/noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed.

Повний текст PDF - 306.021 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Жарков И. П. Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И. П. Жарков, А. Н. Иващенко, Э. М. Руденко, И. В. Короташ, А. А. Краковный, В. В. Сафронов, В. А. Ходунов, А. Э. Руденко // Наука та інновації. - 2013. - Т. 9, № 3. - С. 13-18. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/scinn_2013_9_3_3.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача