Evaluation of reliability of radio-electronic devices with variable structure

Ryzhov, Ye. V.; Sakovich, L. N.; Puchkov, O. O.; Nebesna, Ya. E.


	Наукова періодика України		Радіоелектроніка, інформатика, управління

Ryzhov Ye. V.
Evaluation of reliability of radio-electronic devices with variable structure / Ye. V. Ryzhov, L. N. Sakovich, O. O. Puchkov, Ya. E. Nebesna // Радіоелектроніка, інформатика, управління. - 2020. - № 3. - С. 31-41. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/riu_2020_3_5

Повний текст PDF - 620.689 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Ryzhov Ye. V. Evaluation of reliability of radio-electronic devices with variable structure / Ye. V. Ryzhov, L. N. Sakovich, O. O. Puchkov, Ya. E. Nebesna // Радіоелектроніка, інформатика, управління. - 2020. - № 3. - С. 31-41. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/riu_2020_3_5.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача