| Наукова періодика України |
| Радіоелектронні і комп’ютерні системи |
Кривенко С. С. Обнаружение текстурных участков SVM-классификатором на изображениях при наличии помех / С. С. Кривенко, А. В. Науменко, В. В. Лукин // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2015. - № 2. - С. 50–57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2015_2_10 Рассмотрена возможность применения SVM-классификатора для обнаружения текстурных участков на изображениях, на которых присутствует достаточно интенсивный аддитивный шум. Показано, что эффективность такого классификатора зависит от количества входных признаков и размера блока, в которых эти признаки вычисляются. Также продемонстрирована применимость обученного классификатора для обработки изображений с различными текстурами и при разном уровне помех. Показано, что для четырех полностью текстурных тестовых изображений достигается уровень чувствительности классификатора на уровне 0,85 - 0,95. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Кривенко С. С. Обнаружение текстурных участков SVM-классификатором на изображениях при наличии помех / С. С. Кривенко, А. В. Науменко, В. В. Лукин // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2015. - № 2. - С. 50–57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2015_2_10.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
