Наукова періодика України Радіоелектронні і комп’ютерні системи


Андриенко В. А. 
Архитектура встроенного многоверсионного самотестирования микросхем памяти / В. А. Андриенко, В. Г. Рябцев, Т. Ю. Уткина // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2012. - № 6. - С. 53–57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2012_6_12
Рассмотрена архитектура микросхемы памяти со встроенными средствами многоверсионного самотестирования. Показаны преимущества встроенного самотестирования над внешним автоматизированным тестовым оборудованием, которое является очень дорогим, что увеличивает стоимость микросхем на рынке. Предложена архитектура встроенных средств, обеспечивающих оперативную смену программ самотестирования. Данная архитектура позволяет повысить качество микросхем памяти на этапе изготовления и повысить коэффициент технической готовности микросхем на этапе эксплуатации.
  Повний текст PDF - 538.396 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Андриенко В.
  • Рябцев В.
  • Уткина Т.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Андриенко В. А. Архитектура встроенного многоверсионного самотестирования микросхем памяти / В. А. Андриенко, В. Г. Рябцев, Т. Ю. Уткина // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2012. - № 6. - С. 53–57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2012_6_12.

    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Рябцев Володимир Григорович (технічні науки)
  • Уткіна Тетяна Юріївна (1984–) (технічні науки)
  •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського