Наукова періодика України | Радіоелектронні і комп’ютерні системи | ||
Шматко А. А. Статистический анализ спекл-структур интерференционных образов шероховатой поверхности / А. А. Шматко // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2012. - № 4. - С. 130–133. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2012_4_21 Рассмотрена задача анализа корреляционной функции спекл-структур интерференционных изображений, сформированных отраженным от шероховатой поверхности когерентным излучением, с применением методов статистического анализа пространственных случайных процессов. Установлены её основные статистические характеристики, позволяющие определить размер спеклов, а также связь с эффективной поверхностью рассеяния, которая, в свою очередь, содержит информацию о параметрах шероховатости поверхности. Теоретические выкладки подтверждаются экспериментальными данными. Результаты работы могут быть использованы при исследовании связи спектрально-корреляционных характеристик спекл-интерферометрических изображений с исследуемой поверхностью. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Шматко А. А. Статистический анализ спекл-структур интерференционных образов шероховатой поверхности / А. А. Шматко // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2012. - № 4. - С. 130–133. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2012_4_21. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |