| Наукова періодика України |
| Радіоелектронні і комп’ютерні системи |
Альмади М. К. Метод и средство повышения эффективности диагностирования запоминающих устройств / М. К. Альмади, Д. Н. Моамар, В. Г. Рябцев // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2010. - № 5. - С. 192–196. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2010_5_32 Приведен метод средневзвешенных оценок диагностических свойств тестов и средство выбора оптимизированного набора тестов, обеспечивающих эффективное тестовое диагностирование запоминающих устройств, что повысит надежность микросхем и модулей памяти на этапе изготовления, а также коэффициент готовности запоминающих устройств на этапе эксплуатации за счет сокращения времени локализации и устранения неисправностей. Для практического применения данного метода использован алгоритм сортировки "пузырьком" средневзвешенных оценок диагностических свойств тестов и разработана программа Optimal-Test, обеспечивающая выбор оптимизированной последовательности тестов, что позволяет увеличить показатель эксплуатационной эффективности системы диагностирования. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Альмади М. К. Метод и средство повышения эффективности диагностирования запоминающих устройств / М. К. Альмади, Д. Н. Моамар, В. Г. Рябцев // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2010. - № 5. - С. 192–196. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2010_5_32.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
