Методика самодиагностирования VLSI-архитектур с циклическим режимом функционирования

Благодарный, Н. П.; Остроумов, Б. В.; Сидоренко, Н. Ф.; Яценко, С. Я.


	Наукова періодика України		Радіоелектронні і комп’ютерні системи

Благодарный Н. П.
Методика самодиагностирования VLSI-архитектур с циклическим режимом функционирования / Н. П. Благодарный, Б. В. Остроумов, Н. Ф. Сидоренко, С. Я. Яценко // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2008. - № 6. - С. 171–176. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2008_6_31

Предложена методика оперативного определения технического состояния VLSI-архитектур на активных и пассивных временных интервалах функционирования управляющих вычислительных систем реального времени по назначению.

Повний текст PDF - 414.76 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Благодарный Н. П. Методика самодиагностирования VLSI-архитектур с циклическим режимом функционирования / Н. П. Благодарный, Б. В. Остроумов, Н. Ф. Сидоренко, С. Я. Яценко // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2008. - № 6. - С. 171–176. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2008_6_31.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача