Поряд з натурним проектуванням досить часто в теперішній час використовують віртуальні методи проектування, які передбачають здійснення попереднього розрахунку параметрів пристрою, що проектується. До таких параметрів відноситься надійність. Для цього у складі віртуальної лабораторії автоматизованого проектування, яку створено в Інституті кібернетики ім. В. М. Глушкова НАН України, розроблено модуль для розрахунку параметрів надійності як окремих мікроелектронних компонентів, так і цілих пристроїв. В основу роботи модуля покладено дві методики розрахунку параметрів надійності: на основі експоненціального закону розподілу ймовірностей відмов і на основі DN-розподілу ймовірностей відмов. Наявність теоретичного матеріалу, опису методик розрахунку і інших довідкових матеріалів дає можливість використовувати даний модуль не тільки в наукових дослідженнях та під час проектування, але і у навчальному процесі.

  Повний текст PDF - 367.791 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"