Наукова періодика України Радіоелектронні і комп’ютерні системи

Каминская М. А. 
Повышение качества теста на основе метода анализа тестопригодности устройства на различных уровнях описания / М. А. Каминская, С. А. Зайченко // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2007. - № 7. - С. 140–146. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2007_7_27
Предложен метод анализа тестопригодности цифрового устройства, представленного на системном уровне в виде кода VHDL и трансформированного в ориентированный граф для упрощения задач верификации, синтеза тестов и/или улучшения покрытия неисправностей для заданных входных наборов. Метод основан на топологическом анализе синтезированного устройства и последующей его модификации путем разделения режимов работы (тестовый и функциональный) в целях улучшения тестопригодности и упрощения решения задач тестирования.
  Повний текст PDF - 485.643 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Каминская М.
  • Зайченко С.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Каминская М. А. Повышение качества теста на основе метода анализа тестопригодности устройства на различных уровнях описания / М. А. Каминская, С. А. Зайченко // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2007. - № 7. - С. 140–146. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2007_7_27.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського