Наукова періодика України Problems and perspectives in management

Tansey R. 
Patent Aggression: High Risk Intellectual Property Strategies in the Semiconductor Industries / R. Tansey, M. Neal, R. Carroll // Problems and perspectives in management. - 2004. - Iss. 4. - С. 80-91. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/prperman_2004_4_7
  Повний текст PDF - 172.974 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Tansey R.
  • Neal M.
  • Carroll R.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Tansey R. Patent Aggression: High Risk Intellectual Property Strategies in the Semiconductor Industries / R. Tansey, M. Neal, R. Carroll // Problems and perspectives in management. - 2004. - Iss. 4. - С. 80-91. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/prperman_2004_4_7.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського