Nano-structural, Electrical and Mechanical Characterization of Zirconium Oxide Thin Films as a Function of Annealing Temperature and Time

Khojier, K.; Sarshar, S.; Jafari, F.; Borzou, A.


	Наукова періодика України		Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties

Khojier K.
Nano-structural, Electrical and Mechanical Characterization of Zirconium Oxide Thin Films as a Function of Annealing Temperature and Time / K. Khojier, S. Sarshar, F. Jafari, A. Borzou // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 1. - С. 01NTF06-01NTF06. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_1_8

Повний текст PDF - 409.011 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Khojier K. Nano-structural, Electrical and Mechanical Characterization of Zirconium Oxide Thin Films as a Function of Annealing Temperature and Time / K. Khojier, S. Sarshar, F. Jafari, A. Borzou // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 1. - С. 01NTF06-01NTF06. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_1_8.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача