Depth Profiling of Multilayer Mo/Si Nanostructures

Tolstoguzov, A.; Ber, B.; Chapon, P.; Drozdov, M.


	Наукова періодика України		Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties

Tolstoguzov A.
Depth Profiling of Multilayer Mo/Si Nanostructures / A. Tolstoguzov, B. Ber, P. Chapon, M. Drozdov // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 1. - С. 01PCSI08-01PCSI08. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_1_51

Повний текст PDF - 1.41 Mb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Tolstoguzov A. Depth Profiling of Multilayer Mo/Si Nanostructures / A. Tolstoguzov, B. Ber, P. Chapon, M. Drozdov // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 1. - С. 01PCSI08-01PCSI08. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_1_51.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача