Наукова періодика України | Наукові записки [Кіровоградського державного педагогічного університету імені Володимира Винниченка] | ||
Volchanskyy O. Thermal wave microscopy – a unique tool for non-destroying level-by-level diagnostics of semiconductor structures / O. Volchanskyy // Наукові записки [Кіровоградського державного педагогічного університету імені Володимира Винниченка] . Серія : Проблеми методики фізико-математичної і технологічної освіти. - 2013. - Вип. 4(1). - С. 102-109. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/nz_pmfm_2013_4%281%29__25 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Volchanskyy O. Thermal wave microscopy – a unique tool for non-destroying level-by-level diagnostics of semiconductor structures / O. Volchanskyy // Наукові записки [Кіровоградського державного педагогічного університету імені Володимира Винниченка] . Серія : Проблеми методики фізико-математичної і технологічної освіти. - 2013. - Вип. 4(1). - С. 102-109. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/nz_pmfm_2013_4(1)__25. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |