Исследование локального окружения аминодифосфоновой кислоты, ковалентно закрепленной на поверхности кремнезема, методами РФЭС и 31P ЯМР спектроскопии

Костенко, Л. С.; Андреев, А. C.; Фрессар, Ж.; Алексеев, С. А.; Зайцев, В. Н.

Методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и ЯМР спектроскопии на ядрах <^>31P исследованы образцы кремнеземов, содержащие на поверхности ковалентно закрепленные группы аминодифосфоновой кислоты (SiO2 - АДФК). Образцы SiO2 - АДФК, полученные по реакции Кабачника - Филдса обработкой аминопропилкремнезема фосфористой кислотой и формальдегидом, различались степенью превращения аминогрупп в аминофосфоновые (59 - 86 %), а также концентрацией закрепленных групп (0,33 - 1,67 мкмоль/м<^>2). Показано, что в зависимости от степени превращения и концентрации закрепленных групп, <^>31P ЯМР спектры образцов могут различаться как количеством сигналов, так и их положением. Такое различие интерпретировано как результат неоднородности локального окружения аминодифосфоновых групп на поверхности.


	Наукова періодика України		Хімія, фізика та технологія поверхні