Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics


Dahraoui N. 
New Deconvolution Technique to Improve the Depth Resolution in Secondary Ion Mass Spectrometry / N. Dahraoui, M. Boulakroune, D. Benatia // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 2. - С. 02021-1-02021-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_2_23
Запропоновано ефективний метод відновлення сигналів SIMS від сильно розмитих дискретних піків. Ця методика грунтується на регуляризації Тихонова - Міллера, де включена апріорна модель розв'язку. Останній - це шумопригнічуючий сигнал, одержаний за використання фільтра Калмана. Це цікавий метод оцінки, але він може бути використаний тільки тоді, коли можна точно описати зразок. Порівнюючи результати запропонованої методики з результатами літератури, запропонований алгоритм надає найкращі результати без артефактів і коливань, пов'язаних з шумом, і значного поліпшення глибинного аналізу, у той час як коефіцієнт підсилення менш поліпшений, ніж коефіцієнт, одержаний за допомогою методу вейвлетів. Таким чином, цей новий алгоритм може розширити межі вимірювань SIMS до граничної роздільної здатності.
  Повний текст PDF - 511.505 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Dahraoui N.
  • Boulakroune M.
  • Benatia D.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Dahraoui N. New Deconvolution Technique to Improve the Depth Resolution in Secondary Ion Mass Spectrometry / N. Dahraoui, M. Boulakroune, D. Benatia // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 2. - С. 02021-1-02021-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_2_23.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського