Наукова періодика України | Journal of Nano- and Electronic Physics | ||
Matveev D. Yu. The Concentration Measurements of Tellurium Donor Impurity in Lamellar Bismuth Samples by the Time-of-flight Mass Spectrometry Method / D. Yu. Matveev, D. V. Starov // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 2. - С. 02017-1-02017-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_2_19 Вивчено можливість визначення глибинного розподілу донорної домішки телуру в пластинчатих зразках вісмуту з використанням методів мас-спектрометрії та електронної мікроскопії в діапазоні концентрацій 0,005 - 0,150 ат. % Te. Для вимірювання кількості телуру в пластинчатих зразках вісмуту використовувався часопролітний мас-спектрометр LUMAS-30 з імпульсним газовим розрядом низького тиску в комбінованому порожнистому катоді та скануючий електронний мікроскоп Zeiss Evo-40. Зразки для вимірювань вирізали з середини злитків сплаву Bi - Te з необхідною концентрацією домішок. Зразки представляли собою тонку пластину розміром <$E10~times~10> мм<^>2 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Matveev D. Yu. The Concentration Measurements of Tellurium Donor Impurity in Lamellar Bismuth Samples by the Time-of-flight Mass Spectrometry Method / D. Yu. Matveev, D. V. Starov // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 2. - С. 02017-1-02017-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_2_19. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |