Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics


Matveev D. Yu. 
The Concentration Measurements of Tellurium Donor Impurity in Lamellar Bismuth Samples by the Time-of-flight Mass Spectrometry Method / D. Yu. Matveev, D. V. Starov // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 2. - С. 02017-1-02017-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_2_19
Вивчено можливість визначення глибинного розподілу донорної домішки телуру в пластинчатих зразках вісмуту з використанням методів мас-спектрометрії та електронної мікроскопії в діапазоні концентрацій 0,005 - 0,150 ат. % Te. Для вимірювання кількості телуру в пластинчатих зразках вісмуту використовувався часопролітний мас-спектрометр LUMAS-30 з імпульсним газовим розрядом низького тиску в комбінованому порожнистому катоді та скануючий електронний мікроскоп Zeiss Evo-40. Зразки для вимірювань вирізали з середини злитків сплаву Bi - Te з необхідною концентрацією домішок. Зразки представляли собою тонку пластину розміром <$E10~times~10> мм<^>2 і товщиною 1 мм. Їх ретельно промивали дистильованою водою, а потім травили у 65 % розчині азотної кислоти для видалення поверхневого шару зі слідами зовнішніх забруднень. Зразки зміцнювали як дно порожнистого катода в газорозрядній комірці, де відбувалася імпульсна іонізація атомів зразка у плазмі тліючого розряду. Відносна похибка глибинного розподілу домішок не перевищувала 6 %, а похибка визначення концентрації домішок мас-спектрометром, за паспортними даними, не перевищувала 5 %. Межа чутливості під час визначення концентрації домішок у приладі LUMAS-30, за паспортними даними, становила 10<^>-6 ат. %. В результаті проведених досліджень встановлено, що метод часопролітної масової спектрометрії надає дуже точне визначення концентрації домішок телуру, а також дозволяє встановити рівномірний розподіл телуру у об'ємі легованого пластинчастого зразка вісмуту. Метод електронної мікроскопії з використанням мікроскопа Zeiss Evo-40 не надає рівномірного розподілу телуру у об'ємі зразка.
  Повний текст PDF - 358.933 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Matveev D.
  • Starov D.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Matveev D. Yu. The Concentration Measurements of Tellurium Donor Impurity in Lamellar Bismuth Samples by the Time-of-flight Mass Spectrometry Method / D. Yu. Matveev, D. V. Starov // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 2. - С. 02017-1-02017-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_2_19.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського