Effect of Different Heat Treatment Regimes on Electrical Properties and Microstructure of n-Si

Gaidar, G. P.; Baranskii, P. I.


	Наукова періодика України		Journal of nano- and electronic physics

Gaidar G. P.
Effect of Different Heat Treatment Regimes on Electrical Properties and Microstructure of n-Si / G. P. Gaidar, P. I. Baranskii // Journal of nano- and electronic physics. - 2020. - Vol. 12, no. 4. - С. 04003-1-04003-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2020_12_4_5

Повний текст PDF - 511.494 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Gaidar G.

Baranskii P.

Бібліографічний опис для цитування:

Gaidar G. P. Effect of Different Heat Treatment Regimes on Electrical Properties and Microstructure of n-Si / G. P. Gaidar, P. I. Baranskii // Journal of nano- and electronic physics. - 2020. - Vol. 12, no. 4. - С. 04003-1-04003-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2020_12_4_5.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача