Contrast of Electron Microscopy Images of Amorphous Objects

Svatiuk, O. Ya.

Svatiuk O. Ya.
Contrast of Electron Microscopy Images of Amorphous Objects / O. Ya. Svatiuk // Журнал нано- та електронної фізики. - 2016. - Т. 8, № 1. - С. 01005-1-01005-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2016_8_1_7

It has been proposed to determine the contrast in electron microscopy image via the total electron fluxes scattered beyond the aperture diaphragm by local areas of the object under study to analyze quantitatively the amplitude (absorption) contrast of the amorphous objects with different types of heterogeneities of the atomic and continual structure. The significant properties of the determined contrast are its linear dependence on the difference of electron beam fluxes that form the image and a convenient range of variation from 0 to 1 relative units.

Повний текст PDF - 317.35 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Svatiuk O.

Бібліографічний опис для цитування:

Svatiuk O. Ya. Contrast of Electron Microscopy Images of Amorphous Objects / O. Ya. Svatiuk // Журнал нано- та електронної фізики. - 2016. - Т. 8, № 1. - С. 01005-1-01005-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2016_8_1_7.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача