За допомогою методів дифрактометрії, растрової і атомно-силової мікроскопії, рентгенівського характеристичного випромінювання індукованого сфокусованим протонним пучком (PIXE), Резерфордівського зворотного розсіювання іонів гелію-4 проведено дослідження плівок твердих розчинів Pb_1-xSn_xS, нанесених за методом "гарячої стінки". Встановлено, що шари, одержані в інтервалі температур конденсації С, мають практично однофазну кристалічну структуру орторомбічної модифікації з параметрами гратки, які знаходяться у діапазоні a = (0,4214 - 0,4293) нм, b = (1,1246 - 1,1313) нм, с = (0,3980 - 0,4015) нм. Розміри областей когерентного розсіювання у плівках складають L₍₀₄₀₎ = (35,5 - 47,5) нм, L₍₁₃₁₎ = (44,4 - 51,5) нм. Досліджено розподіл компонентів сполуки за площею плівок (mu-PIXE), а також їх елементний склад (PIXE). Встановлено, що одержані зразки дещо збіднені сіркою у порівнянні зі стехіометричним складом. Атомна концентрація компонентів, що входять до складу твердого розчину, змінюється в інтервалі C_Pb = 12,71 - 19,13; C_Sn = 40,29 - 44,46; C_S = 38,36 - 42,75 ат. %. За збільшення температури підкладки вміст свинцю у плівках збільшується, а сірки зменшується, атомна концентрація олова при цьому змінюється слабко.

  Повний текст PDF - 773.445 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"