Small Angle X-ray Scattering in Thin Iron Films

Chekadanov, A. S.; Kuzmenko, A. P.; Emelyanov, S. G.; Chervyakov, L. M.; Dobromyslov, M. B.

Chekadanov A. S.
Small Angle X-ray Scattering in Thin Iron Films / A. S. Chekadanov, A. P. Kuzmenko, S. G. Emelyanov, L. M. Chervyakov, M. B. Dobromyslov // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 3. - С. 03023-1-03023-3. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_3_25

By small angle X-ray scattering (SAXS) and atomic force microscopy characteristic sizes are determined, structural features of thin iron films deposited by magnetron evaporation onto substrates from pyroceramics are established. It is shown that morphologically the film is characterized by disorder. It is formed from columnar nano crystallites that are oriented either perpendicular to the substrate or situated in its plane, which dictates polydispersity of those coatings. It is shown that SAXS may be thought of as nondestructive technique for analyzing structure and composition and conducting quality control of magnetron films.

Повний текст PDF - 371.907 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Chekadanov A. S. Small Angle X-ray Scattering in Thin Iron Films / A. S. Chekadanov, A. P. Kuzmenko, S. G. Emelyanov, L. M. Chervyakov, M. B. Dobromyslov // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 3. - С. 03023-1-03023-3. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_3_25.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача


	Наукова періодика України		Journal of Nano- and Electronic Physics