| Наукова періодика України |
| Journal of Nano- and Electronic Physics |
Шкалето В. И. Определение комплексного показателя преломления эталона для измерения коэффициента отражения / В. И. Шкалето, Г. И. Копач, Р. В. Зайцев // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 2. - С. 02013(5). - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_2_15 Предложены методы определения комплексного показателя преломления непрозрачных объектов по результатам измерения коэффициентов отражения при 2-х различных углах падения. Приведены оптические схемы приставок к спектрофотометру СФ-46 для измерения коэффициента отражения с помощью абсолютного и относительного методов. Обоснован выбор материала эталона при измерениях коэффициента отражения по относительному методу. Дан алгоритм программы "Back Task Optic" для определения комплексного показателя преломления по результатам оптических измерений. Представлены результаты измерений коэффициента пропускания приставок для определения параметров зеркал эталона и их показателя преломления. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Шкалето В. И. Определение комплексного показателя преломления эталона для измерения коэффициента отражения / В. И. Шкалето, Г. И. Копач, Р. В. Зайцев // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 2. - С. 02013(5). - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_2_15.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
