Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics

Ravi Kumar 
Evaluation of Vertical Coherence Length, Twist and Microstrain of GaAs / Si Epilayers Using Modified Williamson-Hall Analysis / Kumar Ravi, Ganguli Tapas, Chouhan Vijay, V. K. Dixit, Mondal Puspen, A. K. Srivastava, C. Mukherjee, T. K. Sharma // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 2. - С. 02010(7). - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_2_12
  Повний текст PDF - 859.963 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Ravi K.
  • Tapas G.
  • Vijay C.
  • Dixit V.
  • Puspen M.
  • Srivastava A.
  • Mukherjee C.
  • Sharma T.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Ravi Kumar Evaluation of Vertical Coherence Length, Twist and Microstrain of GaAs / Si Epilayers Using Modified Williamson-Hall Analysis / Kumar Ravi, Ganguli Tapas, Chouhan Vijay, V. K. Dixit, Mondal Puspen, A. K. Srivastava, C. Mukherjee, T. K. Sharma // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 2. - С. 02010(7). - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_2_12.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського