Рассмотрена задача моделирования и тестовой диагностики неисправностей перекрестных индуцированных импульсов комбинационных цифровых устройств. Разработан метод логического моделирования в многозначный алфавит C9, который позволяет моделировать схемы с неисправностями «индуцированные импульсы». Показана эффективность применения многозначного логического моделированием в сочетании с эволюционным подходом в задаче построения тестов для неисправностей данного типа.It is considered the problem of simulation and test diagnosis of crosstalk induced pulses faults for combinational digital devices. There was developed a method of multivalued logic simulation in alphabet C9, which allows to simulate circuits with “induced impulses” faults. It was shown the efficiency of a multi-valued logic simulation in conjunction with the evolutionary approach to the problem of test generation for this type of faults.Розглянуто завдання моделювання і тестової діагностики несправностей перехресних індуційованих імпульсів комбінаційних цифрових пристроїв. Розроблено метод логічного моделювання у багатозначному алфавіту C9, який дозволяє моделювати схеми з несправностями «індуційовані імпульси». Показано ефективність застосування багатозначного логічного моделюванням в поєднанні з еволюційним підходом в задачі побудови тестів для несправностей даного типу.

  Повний текст PDF - 421.842 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"