| Наукова періодика України |
| Электронная микроскопия и прочность материалов |
Валуйська К. О. Зносостійкість in situ композитів Ti—Si—Ga / К. О. Валуйська, І. Д. Горна, В. Т. Варченко, М. Д. Бега, І. Ю. Окунь, Я. І. Євич, С. О. Фірстов // Электронная микроскопия и прочность материалов. Серия : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. - 2018. - Вып. 24. - С. 47-53. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/empm_2018_24_8 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Валуйська К. О. Зносостійкість in situ композитів Ti—Si—Ga / К. О. Валуйська, І. Д. Горна, В. Т. Варченко, М. Д. Бега, І. Ю. Окунь, Я. І. Євич, С. О. Фірстов // Электронная микроскопия и прочность материалов. Серия : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. - 2018. - Вып. 24. - С. 47-53. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/empm_2018_24_8.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
