Наукова періодика України | Электронная микроскопия и прочность материалов | ||
Силенко П. М. Виготовлення нанокабелів BN―SiC методом CVD, їх структура та морфологія / П. М. Силенко, А. М. Шлапак, О. Ф. Пилипчук, П. М. Дьячков, Ю. М. Солонін // Электронная микроскопия и прочность материалов. Сер. : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. - 2009. - Вип. 16. - С. 136-141. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/empm_2009_16_18 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Силенко П. М. Виготовлення нанокабелів BN―SiC методом CVD, їх структура та морфологія / П. М. Силенко, А. М. Шлапак, О. Ф. Пилипчук, П. М. Дьячков, Ю. М. Солонін // Электронная микроскопия и прочность материалов. Сер. : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. - 2009. - Вип. 16. - С. 136-141. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/empm_2009_16_18.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |